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JJF 1254-2010 数显测高仪校准规范

作者:广陆数测 发布日期:2013-11-19

1 范围
本规范适用于分辨力为0。l um、O.2um、0.5um和1um,量程0mm至10O0mm
的数显测高仪的校准。
2 引用文献
本规范引用下列文献:
JJF1001— 1998 通用计量术语及定义
JJF1094—⒛02 测量仪器特性评定
JJF1130— zO05 几何量测量设备校准中的不确定度评定指南
GB/T22O94— 2008 电子数显测高仪
使用本规范时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3 概述
数显测高仪是基于精密机械、现代传感技术和电子技术的立式单坐标数字化几何量
测量仪器,用来测量平行平面之间距离、孔和轴直径、中心距以及相关形位误差等。其
外形结构见图1。

 

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